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    振动试验设备之测验方法-好运娱乐平台登录地址

    2012-09-26 17:18:38  来源:林
    振动试验设备之测验方法:

    1、适用范围:本标准规定用以测定电子组件(以下简称组件)于运输或使用中承受振动之耐久性能之试验方法ⅰ、ⅱ及ⅲ。
       注:试验方法ⅰ适用于测定对一般振动之耐久性,试验方法ⅱ适用于测定共振点及试验方法ⅰ、ⅲ前后共振点之偏距,试验方法ⅲ适用于测定在共振点之耐久性。

    2、装置:振动装置应能作表中所示各种试验且符合下列条件。
    (1)振动波形及失真率:施加于供试品之振动波形为正弦波,供试品安装位置之振动加速度波形之备波含有率应为25%以下。
    (2):规定振动方向之振幅容许差,须为规定值之±15%以内。
    (3)与规定振动方向垂直之振动:于供试品安装位置,与规定振动方向垂直之振动,不论任何方向,其振幅应为规定方向之25%以下。
    (4)振动频率容许差:50hz以下就为±1hz,超过50hz时应为±2%。
    (5)扫描(1)方法:原则是为对数扫描,但平均扫描亦可。
            注:(1)1次扫描,例如10—55——10hz,是指在规定振动频率范围作1次往复之频率变化。


    3、准备:
     供试品之安装:将供试品依组件标准规定之方法,直接或使用夹具坚固地安装于振动台上。使用夹具时,须能施加振动于组件标准规定之方向,且夹具应具足够机械强度,安装后亦不得松动或发生共振,组件标准应规定下列任一种安装方法。
            (1)固定组件本体(有导线之组件,亦同时固定导线)。
            (2)仅固定导线。

    4、试验
    1 前处理:原则上不作前处理。但有特别需要时,依组件标准之规定。
    2 初期测定:依组件标准之规定施行,检查外观。
    3 试验方法:依下列各项施行。如装置产生磁导且供试品易受磁场影响时,于组件中应规定其*大允许值。
            4.3.1 试验方法种类:试验方法分为ⅰ(扫描耐久试验)、ⅱ(共振点偏移检出试验)及ⅲ(共振点耐久试验)三种。
    (1)试验方法ⅰ(扫描耐久试验):依组件标准之规定,照下表施行(参照图)。
    振动原则上依次施加于供试品互相垂直之方向。试验时间各方向均相同,合计6小时。
                                              表

           振动种类
    试验条件
    种类a 种类b 种类c
    振动频率范围 10~55hz 100~500hz 10~2000hz
    全振幅或加速度 1.5mm 1.5mm或98m/s2(10g)中较小者 1.5mm或196m/s2(20g)中较小者
    扫描之比例 10-55-10hz
    1分钟
    10-500-10hz约15分钟 10-2000-10hz约20分钟
    扫描方法 对数扫描或平均扫描
    试验时间 6小时
    (2)试验方法ⅱ(共振点偏移检出试验):本试验是于4.3.1(1)及4.3.1(3)试验前后施行,以检出供试品这共振频率。检出共振时之振幅与扫描耐久试验相同。但如由于减小振幅更能精确检出振动特性。可减小振幅。